Análisis de Sistemas de Medición

Curso

En Naucalpan de Juárez

$ 5001-10000

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Descripción

  • Tipología

    Taller

  • Nivel

    Nivel intermedio

  • Lugar

    Naucalpan de juárez

  • Horas lectivas

    16h

  • Duración

    2 Días

  • Inicio

    Fechas disponibles

¿Te gustaría ser capaz de disminuir el margen de error en la medición de instrumentos? Emagister México pone a tu disposición el curso teórico-práctico Análisis de Sistemas de Medición, diseñado por el Centro de Formación de Metrólogos.

Este curso presencial tiene por objetivo prepararte para mejorar los sistemas de medición y disminuir errores en el proceso. Tiene una duración total de 2 días, es decir, 16 horas certificadas con validación de la STPS. A través de su plan de estudios, te prepararás para conocer cuáles son los errores más comunes en la medición y aprenderás técnicas para disminuirlos. Del mismo modo, serás capaz de implementar mejoras que hagan más eficiente la medición.

Los profesores que imparten este curso son expertos en la materia y cuentan con la certificación correspondiente. La metodología consiste en trabajar en grupos seducidos para después realizar un análisis conjunto del trabajo. Estudiarás, entre otras cosas, los errores de los estudios de desviación Bias, estabilidad, linealidad y R&R por método largo. También conocerás los tipos de patrones que existen y los conceptos de incertidumbre y variabilidad, así como diversos procesos de medición.

Para recibir más información sobre este curso, sólo tienes que hacer clic en el botón “Pide información” que verás en esta misma página de emagister.com.mx. ¡El centro de formación que lo imparte te contactará muy pronto!

Precisiones importantes

Documentos

  • Temario MSA 16h 2020.pdf
  • agente capacitador STPS.pdf

Sedes y fechas disponibles

Ubicación

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Naucalpan de Juárez (Estado de México)
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Preguntas & Respuestas

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Materias

  • Sistemas de medición
  • Realización de estudios R&R
  • Estudios de linealidad
  • Estudios de desviación (BIAS)
  • Mejoras en el sistema de medición
  • Disminución de errores de medición
  • Medición de instrumentos
  • Trazabilidad y calibración de instrumentos
  • Planeación de sistemas de medición
  • Variabilidad de sistemas
  • Estabilidad
  • Diagrama de causa y efecto
  • El proceso de medición
  • Definición de bias
  • MSA
  • Reproducibilidad
  • Regla de 10:1

Profesores

Héctor Ceballos

Héctor Ceballos

Dirección de proyectos

Programa académico

  • Introducción, requerimientos, referencias· Definiciones básicas. (Medición , sistema de medición, patrón, discriminación resolución, regla de 10:1, valor de referencia y valor verdadero)·
  • Trazabilidad y calibración(diferentes tipos de patrón)·
  • Incertidumbre (definiciones básicas, relación con el MSA)·
  • Diagrama causa y efecto en la variabilidad del sistema de medición·
  • El proceso de medición
  • Planeación del sistema de medición
  • Definiciones de: Bias, Estabilidad, linealidad, repetibilidad, reproducibilidad, sensitividad, consistencia y uniformidad.
  • Estudios de desviación (Bias)
  • Estudios de estabilidad· Estudios de R&R por el método largo (variables)

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