Curso de principios de metrología para laboratorios, registrado ante STPS

MCG de México

Curso

En Distrito Federal

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Descripción

  • Tipología

    Curso

  • Nivel

    Nivel intermedio

  • Lugar

    Distrito federal

  • Horas lectivas

    16h

  • Duración

    Flexible

Manual del participante
Bolígrafo ejecutivo
Memorias del curso en formato electrónico
Servicio continuo de café y galletas
Reconocimiento con valor curricular
Constancia de habilidades laborales DC-3 (STPS)
6 meses de asesoría electrónica sin costo
Cupo limitado a 11 participantes
Garantía de satisfacción: Si el curso no es de su agrado, le devolvemos su dinero.

Sedes y fechas disponibles

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Distrito Federal (Ciudad de México (Distrito Federal))
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Navarra #187, Colonia Alamos, 03400

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Acerca de este curso

Comprender los principios de la metrología y sus aplicaciones en los laboratorios analíticos.

Analistas y jefes de laboratorio
Jefes y gerentes de calidad

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Materias

  • Calibración
  • Metrología
  • Magnitudes principales
  • Magnitudes
  • Historia
  • Internacional de unidades
  • Internacional
  • Magnitudes secundarias
  • Secundarias
  • Prefijos y sufijos
  • Sufijos

Programa académico

Temario general:

1. Introducción al sistema internacional de unidades (SI)
  • Historia del SI
  • Magnitudes principales
  • Unidades
  • Magnitudes secundarias
  • Prefijos y sufijos
2. Requisitos de la NOM-008-SCFI-2002
  • Lineamientos, alcance y relación con el SI y VIM
  • Uso de las tablas
  • Uso de símbolos
  • Definiciones de unidades
  • Separación de cantidades
3. Conceptos fundamentales del VIM
  • ¿Qué es el VIM?
  • Magnitud
  • Magnitud Base
  • Sistema Internacional de Magnitudes
  • Dimensión de una magnitud
  • Magnitud adimensional
  • Sistema Internacional de Unidades
  • Múltiplos y submúltiplos de unidades
  • Valor de una magnitud
  • Medición
  • Metrología
  • Mensurando
  • Principio de medida
  • Método de medida
  • Procedimiento de medida: de referencia y primario
  • Resultado de medida
  • Valor verdadero de una magnitud
  • Exactitud de medida
  • Precisión de medida
  • Precisión de medida
  • Error sistemático de medida
  • Sesgo de medida
  • Incertidumbre de medida
  • Calibración
  • Trazabilidad metrológica
  • Verificación
  • Corrección
  • Instrumento de medida
  • Sensor
  • Detector
4. Patrones de referencia
  • Patrones de referencia
  • Longitud, masa, tiempo, cantidad de materia, Intensidad de corriente, Intensidad Luminosa, Temperatura
  • El CENAM como organismo nacional de calibración por excelencia
  • Calibradores de tercera parte o externos
  • La acreditación bajo la norma ISO 17025
  • Alcances de acreditación
  • Reconocimientos internacionales con EMA
  • Proveedores internacionales de calibración
5. Calibración de Instrumentos
  • Clases de exactitud
  • Error máximo permitido
  • Patrones de medida
  • Patrones de medidas
6. Uso de materiales de referencia
  • ¿Qué es un material de referencia?
  • Tipos de materiales de referencia
  • Curvas de calibración
  • Coeficientes de correlación
7. Interpretación de certificados de calibración
  • Contenido de un certificado de calibración
  • Datos obligatorios
  • Interpretación de las mediciones
  • Tabla de comparación patrón vs dispositivo de medición
  • Error máximo permitido
  • Informe del procedimiento y resultado de calibración
  • Determinación del estado metrológico del dispositivo
8. Conclusiones
  • Metodología: 50% teoría – 50 % ejercicios y casos prácticos

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