Curso de metrología avanzada, registrado ante STPS

Curso

En Distrito Federal

$ 12,000 IVA inc.

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Descripción

  • Tipología

    Curso

  • Nivel

    Nivel intermedio

  • Lugar

    Distrito federal

  • Horas lectivas

    24h

  • Duración

    Flexible

Manual del participante
Bolígrafo ejecutivo
Memorias del curso en formato electrónico
Servicio continuo de café y galletas
Reconocimiento con valor curricular
Constancia de habilidades laborales DC-3 (STPS)
6 meses de asesoría electrónica sin costo
Cupo limitado a 11 participantes
Garantía de satisfacción: Si el curso no es de su agrado, le devolvemos su dinero.

Sedes y fechas disponibles

Ubicación

Inicio

Distrito Federal (Ciudad de México (Distrito Federal))
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Navarra #187, Colonia Alamos, 03400

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Acerca de este curso

Al finalizar el curso, el participante conocerá la normativa, conceptos y aplicaciones de la metrología en los laboratorios de ensayo y de calibración.

Personal responsable de realizar calibraciones
Jefes y gerentes de laboratorio
Jefes y gerentes de calidad y mantenimiento
Metrólogos y personal técnico
Signatarios ante la EMA

Disponibilidad de calculadora científica o laptop
Conocimientos Básicos de Metrología
Traer USB

Preguntas & Respuestas

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Opiniones

Materias

  • Metrología
  • Importancia
  • Aplicación
  • Conciencia metrológica
  • Conciencia
  • Terminología
  • Norma
  • Nmx-z-055-imnc
  • Alcance
  • Medición

Programa académico

Temario general:

1. Introducción.
  • Importancia de la metrología.
  • Objetivo de la metrología
  • Alcance de la metrología.
  • Aplicación de la metrología.
  • Conciencia metrológica.
2. Terminología NMX-Z-055-IMNC.
  • Objetivo de la norma.
  • Alcance de la norma.
  • Medición
  • Calibración
  • Error de medición.
  • Incertidumbre.
  • Trazabilidad.
3. Ley Federal de Metrología y Normalización LFMN.
  • Metrología.
  • Normalización.
  • Acreditación y Aprobación.
  • Verificación.
  • Sanciones.
  • Reglamento de la Ley Federal de Metrología y Normalización RLFMN.
4. ISO/IEC 17025:2017.
  • Objetivo de la norma.
  • Alcance de la norma.
  • Requisitos.
  • Criterios de aplicación de la 17025 ema.
5. Patrones de medición.
  • Tipos de patrones.
  • Características de los patrones.
  • Selección de patrones.
  • Manipulación de los patrones.
6. Incertidumbre de medición NMX-CH-140-IMNC.
  • Objetivo de la norma.
  • Alcance de la norma.
  • Evaluación tipo A de la incertidumbre.
  • Evaluación tipo B de la incertidumbre.
  • Incertidumbre combinada u.
  • Incertidumbre expandida U.
7. Trazabilidad de medición.
  • Evidencia de trazabilidad.
  • Cartas de trazabilidad.
8. Políticas de la EMA.
  • Política de ensayos de aptitud.
  • Política de incertidumbre.
  • Política de trazabilidad.
9. Conclusiones

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